Qualitätsgarantie
Teiletest von Semicron-IGBT Include
- HD-Sichtprüfung
- High Definition Aussehenstest einschließlich Siebdruck, Codierung, High Definition Lötkugeln, die erkennen können, ob oxidierte und Originalteile vorhanden sind.
- Endgültige Funktionsprüfung
- Während eines Funktionstests werden die Spannungspegel der Ausgangssignale des DUT von den Funktionskomparatoren mit den Referenzpegeln VOL und VOH verglichen. Einem Ausgangsimpuls wird für jeden Ausgangs-Pin ein Zeitwert zugewiesen, um den genauen Punkt innerhalb des Testzyklus zum Abtasten der Ausgangsspannung zu steuern.
- Öffnen / Kurztest
- Der Open / Short-Test (auch Durchgangs- oder Kontakttest genannt) stellt sicher, dass während eines Gerätetests ein elektrischer Kontakt zu allen Signalpins des Prüflings hergestellt wird und dass kein Signalpink mit einem anderen Signalpins oder Strom / Masse kurzgeschlossen wird.
- Testen der Programmierfunktion
- Zum Überprüfen der Lese-, Lösch- und Programmfunktionen sowie zur Überprüfung der Leerwerte auf Chips, einschließlich digitalem Speicher, Mikrocontroller, MCU usw.
- RÖNTGEN- UND ROHS-Test
- X-RAY kann bestätigen, ob die Wafer-, Draht- und Die-Bindung gut ist oder nicht. Der ROHS-Test erfolgt über den Umweltschutz der Produktnadel und des Bleigehalts der Lotbeschichtung durch die Photovoltaikanlage
- Chemische Analyse
- Verifiziertes Produkt ist original durch chemische Analyse
Testlaborszenen