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Qualitätsgarantie

Teiletest von Semicron-IGBT Include

HD-Sichtprüfung
High Definition Aussehenstest einschließlich Siebdruck, Codierung, High Definition Lötkugeln, die erkennen können, ob oxidierte und Originalteile vorhanden sind.
Endgültige Funktionsprüfung
Während eines Funktionstests werden die Spannungspegel der Ausgangssignale des DUT von den Funktionskomparatoren mit den Referenzpegeln VOL und VOH verglichen. Einem Ausgangsimpuls wird für jeden Ausgangs-Pin ein Zeitwert zugewiesen, um den genauen Punkt innerhalb des Testzyklus zum Abtasten der Ausgangsspannung zu steuern.
Öffnen / Kurztest
Der Open / Short-Test (auch Durchgangs- oder Kontakttest genannt) stellt sicher, dass während eines Gerätetests ein elektrischer Kontakt zu allen Signalpins des Prüflings hergestellt wird und dass kein Signalpink mit einem anderen Signalpins oder Strom / Masse kurzgeschlossen wird.
Testen der Programmierfunktion
Zum Überprüfen der Lese-, Lösch- und Programmfunktionen sowie zur Überprüfung der Leerwerte auf Chips, einschließlich digitalem Speicher, Mikrocontroller, MCU usw.
RÖNTGEN- UND ROHS-Test
X-RAY kann bestätigen, ob die Wafer-, Draht- und Die-Bindung gut ist oder nicht. Der ROHS-Test erfolgt über den Umweltschutz der Produktnadel und des Bleigehalts der Lotbeschichtung durch die Photovoltaikanlage
Chemische Analyse
Verifiziertes Produkt ist original durch chemische Analyse

Testlaborszenen