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Garantía de calidad
Garantía de calidad
Prueba de pieza por semiconductor discreto incluir
- Inspección visual HD
- Pruebas de apariencia de alta definición que incluyen pantalla de seda, codificación, bolas de soldadura de detección de alta definición, que pueden detectar si las piezas están oxidadas y son originales.
- Prueba de funcionamiento final
- Durante una prueba funcional, los comparadores funcionales comparan el nivel de voltaje de las señales de salida del DUT con los niveles de referencia VOL y VOH. A un estroboscopio de salida se le asigna un valor de tiempo para cada pin de salida para controlar el punto exacto dentro del ciclo de prueba para muestrear el voltaje de salida.
- Prueba abierta / corta
- La prueba de apertura / cortocircuito (también llamada prueba de continuidad o contacto) verifica que, durante una prueba del dispositivo, se haga contacto eléctrico a todos los pines de señal en el DUT y que no haya ningún pin de señal en corto a otro pin de señal o alimentación / tierra.
- Programación de Pruebas de Función
- Para examinar la función de lectura, borrado y programación, así como la comprobación en blanco de los chips, incluida la memoria digital, los microcontroladores, MCU, etc.
- Prueba de rayos X y ROHS
- X-RAY puede confirmar si la unión de la oblea y el alambre y la unión del troquel son buenas o no; La prueba ROHS se realiza a través de la protección ambiental del pin del producto y del contenido de plomo del recubrimiento de soldadura por parte del equipo fotovoltaico.
- Análisis de química
- Producto verificado es original por análisis químico.
Prueba de escenas de laboratorio