Home >
Qualitéitsgarantie
Qualitéitsgarantie
Deel Test Vun Semicron-IGBT abegraff
- HD Visuell Inspektioun
- Héich Definitioun Erscheinungstest abegraff Silk Écran, Kodéierung, High Definition solderbäll z'entdecken, wat feststellen kann ob oxydéiert an originell Deeler.
- Finale Funktioun Testen
- Wärend engem funktionnellen Test gëtt de Spannungsniveau vun den Ausgangssignaler aus der DUT mat de VOL a VOH Referenzniveauen verglach vun de funktionelle Comparators. En Output-Strobe gëtt en Timing-Wäert fir all Ausgangspin zougewisen fir de genaue Punkt am Testzyklus ze kontrolléieren fir d'Ausgangsspannung ze probéieren.
- Open / Kuerz Test
- Den offen / Shorts Test (och Kontinuitéit oder Kontakt Test genannt) verifizéiert datt, wärend engem Apparat Test elektresche Kontakt zu all Signalpins op der DUT gemaach gëtt an datt kee Signalpinn op en anere Signal Pin oder Kraaft / Terrain verkierzt gëtt.
- Programméiere Funktioun Testen
- Fir d'Liesen z'examen, ze läschen an ze programméiere souwéi eidel Iwwerpréiwung fir Chips inklusive Digital Memory, Microcontroller, MCU an sou weider
- X-RAY A ROHS Test
- X-RAY kann bestätegen ob d'Wafer an d'Draadbindung an d'Steierbond gutt ass oder net; de ROHS Test ass iwwer den Ëmweltschutz vum Produkt Pin a Leadgehalt vun der solder Beschichtung duerch de Photovoltaik Equipement
- Chimie Analyse
- Verifizéiert Produkt ass originell duerch chemesch Analyse
Test Lab Szenen